以玻璃檢測(cè)為例，需要檢測(cè)的缺陷有：臟點(diǎn)、結(jié)石、雜質(zhì)、氣泡、刮傷，裂紋，破損等，其大致可以分成兩類(lèi)，一類(lèi)在玻璃表面的，一類(lèi)是玻璃內(nèi)部的。不同的缺陷，在圖象中表現(xiàn)的出的灰度不一樣，有黑的，有白的，也有灰的，并且在不同的光源照射角度或者相機(jī)接受角度，缺陷的對(duì)比度會(huì)變化，如在一個(gè)角度時(shí)，某一種缺陷的對(duì)比度最好，但其他缺陷可能比較次，甚至根本看不到。這樣也就需要大量的分析、組合，才能確定最后的光源選型和相機(jī)、光源和被測(cè)物體之間的相對(duì)角度。如下圖所示，相機(jī)、光源在不同角度安裝，分別測(cè)試。

　　結(jié)果發(fā)現(xiàn)：

　　臟點(diǎn)，正面光源或背光都較容易凸現(xiàn);

　　結(jié)石和雜質(zhì)，需要正面接近法線的照明或背面穿透照明;

　　氣泡，形狀不固定，且要分析形成的原因以及方向，采用背面照明;

　　刮傷和破損，正面低角度照明容易凸現(xiàn)。

　　裂紋，需要背面?zhèn)日?

　　而且，以上缺陷并不是獨(dú)立的，而是互相影響。統(tǒng)計(jì)、分析如下。

　　綜合以上因素，最后選用背光斜射和正面照射結(jié)合，相機(jī)接近法線方向安裝。

　　光源、鏡頭的調(diào)試

　　線掃描系統(tǒng)，對(duì)光源和相機(jī)來(lái)說(shuō)，有效的工作區(qū)域都是一個(gè)窄條。也就是保證光源照在這個(gè)最亮的窄條與相機(jī)芯片要完全平行，否則只能拍到相交叉的一個(gè)亮點(diǎn)。所以機(jī)械安裝、調(diào)試是比較費(fèi)工夫的。同時(shí)由于幅寬比較寬，對(duì)于線光源有兩個(gè)特別的要求，就是均勻性和直線性。因?yàn)榫€光源不同位置的亮暗差異，會(huì)直接影響圖象的亮度高低，這一點(diǎn)LED比鹵素?zé)舾每刂?。出光部分的直線性，取決于LED發(fā)光角度的一致性、聚光透鏡的直線性以及線光源外殼的直線性。

　　由于現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境比較復(fù)雜，客戶總是希望花多一些時(shí)間去現(xiàn)場(chǎng)調(diào)試。但如我們前面講到的相機(jī)、光源、被測(cè)物體的相對(duì)角度測(cè)試、分析，許多因素會(huì)直接影響到檢測(cè)效果。所以我們建議先做實(shí)驗(yàn)室測(cè)試，有了方案之后，再去現(xiàn)場(chǎng)調(diào)試，這樣會(huì)最有把握，也能提高調(diào)試效率。畢竟服務(wù)也是一種成本。 線掃描系統(tǒng)除了機(jī)械結(jié)構(gòu)之外, 其主要組成部分還包括機(jī)器視覺(jué)和運(yùn)動(dòng)控制。